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90nm只是起点!国产光刻机核心部件拆解与技术详解
材料汇· 2025-08-14 13:21
光刻机核心技术与市场分析 - 光刻工艺直接决定芯片制造的细微化水平,关键指标包括分辨率、焦深、套刻精度和产率,其中分辨率提升方式包括缩短曝光波长、增大数值孔径、降低工艺因子以及多重曝光 [2] - 2025年全球光刻机市场规模预计达293.7亿美元,其中照明+物镜、光源、工件台市场规模分别为47.8亿、28.6亿、21.5亿美元 [2] - EUV光刻机2025年市场规模预计96亿美元,其照明+物镜、光源、工件台市场规模分别为15.5亿、12.6亿、7.0亿美元 [2] 光刻机核心部件技术特征 - 投影光学光刻机主要部件包括光源、照明、物镜、工件台等,EUV光刻机特征体现在材料选择、多层反射膜结构、反射式投影系统等方面 [2] - 光源技术从汞灯发展到准分子激光器,EUV采用激光等离子体光源(LPP),需同时实现高脉冲能量和窄线宽 [55][56] - 投影物镜分为全折射式、折反式和全反射式,EUV因材料吸收问题必须采用全反射式结构 [62] - 工件台技术从机械导轨发展到气悬浮和磁悬浮,双工件台设计可同时进行测量与曝光提升效率 [69][70] ASML产业协作模式 - ASML采用全球供应链协作模式,关键供应商包括Zeiss(光学系统)、Cymer(光源)、TRUMPF(EUV激光器)等 [3] - 开放合作是光刻机发展主旋律,EUV光刻机涉及5000家供应商提供10万个零部件 [42] - 技术变革与产业协同是ASML成功关键,通过收购Cymer等公司整合核心技术 [3] 光刻机技术发展趋势 - 分辨率提升路径从缩短波长(436nm→13.5nm)转向浸没式(NA从0.2→1.35)和多重曝光技术 [15][26] - EUV光刻机需解决光源功率(250W)、多层膜反射率(6.5%)、真空环境磁悬浮工件台等技术难点 [57][58][90] - 无掩膜直写光刻技术在IC封装、平板显示等领域拓展应用,包括激光直写和电子束直写 [93][96] 国产化发展现状 - 国内光刻技术与全球先进水平存在差距,大基金三期将重点扶持光源、照明、物镜等核心部件 [3] - 光刻机镜片加工涉及超精密抛光(亚纳米精度)、多层膜沉积(磁控溅射)等高难度工艺 [100][103] - 2023年ASML EUV光刻机出货51台收入91亿欧元,ArFi光刻机出货125台收入90亿欧元 [101]
下一代光刻机,太难了!
半导体行业观察· 2025-06-05 01:37
高数值孔径EUV光刻技术分析 - 高数值孔径(NA)从0.33提升至0.55,可避免在0.33 NA EUV系统上进行多重图案化,但实际应用中EUV仍实现了双重图案化[1] - 数值孔径增加允许使用更多衍射级数或更宽空间频率范围成像,产生更明亮、更窄的峰值,改善归一化图像对数斜率(NILS)[1][3] - 0.33 NA直接打印图像因散粒噪声更易质量下降,需增加剂量至>100 mJ/cm²,但会降低吞吐量或造成光刻胶损失[3] 多重图案化技术比较 - 将0.33 NA图案分成两次曝光可改善NILS,DUV双重图案化可采用相同分割方法[5] - 按NA比(0.33/0.55)缩放图案后,预期High NA EUV需两次图案化,Low NA EUV需三次,DUV需四次[5] - 通孔图案符合对角网格时,可实现DUV/low NA EUV双重图案化或High NA EUV单重图案化的位置选择[7][9] 高数值孔径的技术挑战 - 数值孔径增大导致焦深减小,光刻胶厚度需小于30纳米,造成50%光刻胶厚度损失[13] - 15纳米离焦即显著影响40纳米间距线路图案,因0.55 NA包含四个衍射级而0.33 NA仅两个[11][13] - High NA EUV曝光难以提供合理光刻胶厚度所需的足够焦深,未来Hyper NA(≥0.75)情况会更差[13] 成像质量影响因素 - 更高空间频率与较低空间频率的相位差增大,导致图像因散焦失去对比度,对线路中断和线切割图案尤其不利[9][11] - 间距30nm的断线情况下,高数值孔径的广泛衍射级次导致焦深相对有限[15]