会议概况 - 第四届精密测量与先进制造网络会议将于2025年12月17-18日举办，主题为“从芯到翼：精密测量的尺度革命与产业赋能” [3] - 会议深度聚焦半导体、航空航天与国产精密测量仪器三大专场，覆盖从技术前沿到产业应用的全链条视角 [3] - 会议主办单位为仪器信息网，协办单位为中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所 [3][4] - 会议设有“国产精密测量仪器与技术发展”专场，汇聚顶尖科研院所与企业专家，聚焦自主创新、产业赋能、国家标准与技术解读 [4] 国产精密测量仪器与技术发展专场 - 专场将于12月18日上午举行，包含5个专题报告，涵盖高精度激光雷达、纳米计量、超精密尺寸测量、三维感知及白光干涉仪等技术 [4] - 报告题目与嘉宾分别为：1) 高精度激光扫频干涉测距雷达 - 谈宜东（清华大学） 2) 人形机器人直驱关节制造过程的超精密尺寸测量方案 - 杨飞田（中图仪器） 3) 从先进制造中的台阶高度测量看我国纳米计量技术发展 - 施玉书（中国计量科学研究院） 4) 三维感知技术赋能智能制造 - 王俊亮（思看科技） 5) 计量级扫描白光干涉仪及应用 - 苏榕（中科院上海光机所） [4] 核心技术领域与产业应用 - 高精度激光扫频干涉测距雷达技术兼具高精度与抗环境光干扰优势，是支撑大型装备制造精度控制、环境感知的核心测量手段之一 [7] - 人形机器人直驱关节的制造涉及超精密尺寸测量技术，报告将分析其新技术特点、测量方案及未来技术动向与市场前景 [9] - 我国纳米计量技术发展经历了从“跟跑”到“并跑”再到“领跑”的阶段，标准台阶结构的测量准确度直接决定高端制造质量水平 [13] - 三维感知技术致力于赋能智能制造，相关企业提供的全场景三维数字化解决方案已成功应用于中国商飞C919大飞机、中国空间站等国家重大工程，并在机器人校准、动态测量等领域发挥关键作用 [15] - 计量级扫描白光干涉仪是高端集成电路装备与大科学装置发展的关键，用于测量元器件表面形貌，其数据的准确性、可重复性、可溯源性对高端制造至关重要 [17] 专家背景与行业地位 - 清华大学谈宜东教授，承担国家级项目40余项，发表SCI论文130余篇，授权发明专利40余项，获省部级科技奖励6项 [6] - 中图仪器杨飞田总监，拥有15年精密计测量仪器经验，主持参与研发指示表检定仪、高精度光栅测长机、高精度三坐标测量机等系列产品，申请专利20余项 [8] - 中国计量科学研究院施玉书主任，主持/参与制定国家标准与计量技术规范20余项，建立社会公用计量标准10余项、获批国家标准物质30余项 [11][12] - 思看科技王俊亮总监，从事3D视角研究18年，作为第一起草人起草了光学三维坐标测量系统的国家标准 [14] - 中科院上海光机所苏榕研究员，长期从事超精密光学干涉、散射及表面形貌测量仪器与技术研究，发表论文40余篇，并参与相关国际标准制定 [16]